教員詳細
Teaching staff detail
情報電子オプティクスコース-電気電子分野
柏倉 隆之准教授
Kashiwakura Takayuki
研究のテーマ
軟X線出現電位分光装置の開発とスペクトル解析法に関する研究
研究内容
出現電位分光法（Appearance Potential Spectroscopy, APS）では、試料に電子線を照射して特定の原子の内殻電子を一旦励起し、それが緩和する際に放出される電子やX線の収量を測定する。
その際、内殻励起のしきい値をまたいで電子線のエネルギーを連続的に掃引することでスペクトルを得る。軟X線収量を測定するものは軟X線出現電位分光法（Soft X-ray Appearance Potential Spectroscopy, SXAPS）と分類される。
研究室では、軟X線に対するバンドパスフィルタ的に分光器を用いてSXAPSを測定する装置を開発してきた。この分析装置はバルク敏感という特徴があり、機能性酸化物材料に含まれる元素の化学結合状態の分析において有用であると期待される。
